W dążeniu do bezbłędnej produkcji elektroniki, mikroskopijne wady często stanowią zagrożenie dla jakości.te niewidzialne niedoskonałości nie tylko naruszają wydajność produktu, ale mogą powodować incydenty w zakresie bezpieczeństwaNajwiększym wyzwaniem dla branży jest dokładne i skuteczne identyfikowanie tych ukrytych zagrożeń.łączenie najnowocześniejszej technologii sztucznej inteligencji z zaawansowanym sprzętem, aby zapewnić rewolucyjne badania nieniszczące zespołów elektronicznych, baterie litowe i elementy przemysłowe.
System S-7600 ustanawia nowe standardy w badaniach nieniszczących (NDT) dzięki wyjątkowym możliwościom obrazowania i inteligentnej analizie:
Wyposażony w japońskie zamknięte źródło promieniowania rentgenowskiego typu Hamamatsu, system generuje wiązki o wysokiej gęstości energii z minimalną dywergencją, oferując lepszą penetrację i precyzję.Zespół z detektorem iRay o ultrawysokiej rozdzielczości z płaskich paneli z amorficznego krzemu, osiąga rozdzielczość na poziomie pikseli, aby uchwycić mikroskopijne szczegóły strukturalne z niezrównaną jasnością, umożliwiając czułe wykrywanie niespójności materiału.
Transcenzując konwencjonalne urządzenia obrazowania, S-7600 działa jako inteligentna platforma diagnostyczna.
Poprzez optymalizację uczenia maszynowego system osiąga wysoką dokładność automatycznej inspekcji, znacznie zmniejszając błędy ludzkie i wymagania dotyczące pracy.
System CNC (Computer Numerical Control) zapewnia dokładność pozycjonowania poniżej mikronu, zapewniając optymalne wyrównanie wiązki rentgenowskiej do kompleksowego skanowania złożonych komponentów pod wieloma kątami.
Uproszczone przepływy programowania umożliwiają użytkownikom szkolenie systemu w zakresie standardowych komponentów, automatycznie generując protokoły kontroli, które są idealne dla wielobilowych środowisk produkcyjnych o wielu wariantach.
Zaprojektowany do zastosowań przemysłowych, S-7600 wyróżnia się w rygorystycznych zastosowaniach:
Zaprojektowany do nieprzerwanego przepływu produkcji system zapewnia monitorowanie jakości w czasie rzeczywistym w celu zapobiegania wadom serii w produkcji elektroniki i baterii.
Wielowarstwowa osłona ( stal-ołowiu-stal) i widok z ołowiu utrzymują wyciek promieniowania poniżej 0,5 μSv/h ≈ 50% w ramach krajowych progów bezpieczeństwa.
System, zgodny ze standardami Przemysłu 4.0, umożliwia zarządzanie jakością oparte na danych:
Bezproblemowa integracja z systemami wykonywania produkcji ułatwia przesyłanie danych w czasie rzeczywistym w celu identyfikacji produkcji i scentralizowanej kontroli jakości.
Zautomatyzowane łączenie kodów kreskowych tworzy kompleksowe zapisy jakości, usprawniając identyfikowalność wadliwych produktów.
Analiza oparta na sztucznej inteligencji generuje szczegółowe raporty na temat wzorców wad, częstotliwości i dystrybucji, umożliwiając ukierunkowane ulepszenia procesów.
S-7600 stanowi zmianę w zakresie zapewnienia jakości produkcji.zapewnia bezprecedensowe możliwości wykrywania usterek, umożliwiając jednocześnie inteligentną integrację fabryki - kluczową przewagę w dzisiejszym konkurencyjnym krajobrazie produkcji elektroniki i baterii.